17c一起草

_{^{<dd id='c6om1'><tbody id='c6om1'><td id='c6om1'><optgroup id='c6om1'><strong id='c6om1'></strong></optgroup><address id='c6om1'><ul id='c6om1'></ul></address><big id='c6om1'></big></td><table id='c6om1'></table></tbody><pre id='c6om1'></pre></dd><span id='c6om1'><b id='c6om1'></b></span>}}


<dfn id='c6om1'><optgroup id='c6om1'></optgroup></dfn><tfoot id='c6om1'><bdo id='c6om1'><div id='c6om1'></div><i id='c6om1'><dt id='c6om1'></dt></i></bdo></tfoot>

_{<fieldset id='c6om1'></fieldset>}

每經網首頁丨
丨
丨
丨
視頻丨
丨
IPO丨
丨
丨
房產丨
丨
丨
丨
丨
每經商學院

首發快訊

每經網首頁 > 首發快訊 > 正文

我國科研人員“以柔克剛”填補微型LED晶圓無損測試技術空白

2025-06-13 17:31:41

每經AI快訊，微型LED是下一代高端顯示技術的核心元件，搭載微型LED的晶圓必須達到100%的良率，否則將會給終端產品造成巨大的修復成本。然而，業界卻一直沒有找到晶圓接觸式無損檢測的好方法。近日，我國科研人員用“以柔克剛”的方式填補了這一技術空白。傳統的晶圓良率檢測方法有的如“鐵筆刻玉”，會造成晶圓表面不可逆的物理損傷；有的則只能“觀其大概”，存在較高的漏檢率和錯檢率。良率無損檢測的技術空白嚴重阻礙了大面積顯示屏、柔性顯示屏等微型LED終端產品的量產。近日，天津大學精密測試技術及儀器全國重點實驗室、精儀學院感知科學與工程系黃顯教授團隊打破了微型LED晶圓測試瓶頸，實現了微型LED晶圓高通量無損測試，研究成果于13日在國際學術期刊《自然-電子學》刊發。（新華社）

責編張喜威

特別提醒：如果我們使用了您的圖片，請作者與本站聯系索取稿酬。如您不希望作品出現在本站，可聯系我們要求撤下您的作品。

上一篇文章

粵港澳大灣區公共算力服務平臺啟動建設計劃今年8月上線

返回每經網首頁

下一篇文章

百洋醫藥：“锝[99mTc]肼基煙酰胺聚乙二醇雙環RGD肽注射液”已于近日重新提交審核